Can Automated Impact Analysis Techniques Help Predict Decaying Modules?

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Can Automated Impact Analysis Techniques Help Predict Decaying Modules?

著者

和文:	Sae-Lim Natthawute, 林晋平, 佐伯元司.
英文:	Natthawute Sae-Lim, Shinpei Hayashi, Motoshi Saeki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 35th IEEE International Conference on Software Maintenance and Evolution (ICSME 2019)

巻, 号, ページ

pp. 541-545

出版年月

2019年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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DOI