Self-Heating-Effect-Free p/n-Stacked-NW on Bulk-FinFETs and 6T-SRAM Layout

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Self-Heating-Effect-Free p/n-Stacked-NW on Bulk-FinFETs and 6T-SRAM Layout

著者

和文:	安重英祐, 宗田伊理也, 角嶋邦之, 筒井一生, 若林整.
英文:	Eisuke Anju, Iriya Muneta, Kuniyuki Kakushima, Kazuo Tsutsui, Hitoshi Wakabayashi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2018年3月13日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 2nd Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM2018)

開催地

和文:
英文:	Kobe