Characteristics of Fe/pGaN Contact upon Annealing Process

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characteristics of Fe/pGaN Contact upon Annealing Process

著者

和文:	池内勇太, 星井拓也, 若林整, 筒井一生, 岩井洋, 角嶋邦之, S.Ishikawa.
英文:	Y. Ikeuchi, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, H. Iwai, K. Kakushima, S.Ishikawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2016年12月7日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	47th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC2016)

開催地

和文:
英文:	San Diego