A novel hetero-junction Tunnel-FET using Semiconducting silicide-Silicon contact and its scalability

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A novel hetero-junction Tunnel-FET using Semiconducting silicide-Silicon contact and its scalability

著者

和文:	呉研, 長谷川明紀, 角嶋邦之, 大毛利健二, "T. Watanabe", 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 片岡好則, 名取研二, 山田啓作, 岩井洋.
英文:	"Y. Wu", "H. Hasegawa", "K. Kakushima", "K. Ohmori", "T. Watanabe", "A. Nishiyama", "N. Sugii", "H. Wakabayashi", "K. Tsutsui", "Y. Kataoka", "K. Natori", "K. Yamada", "H. Iwai".

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Microelectronics Reliability

巻, 号, ページ

Vol. 54 No. 5 pp. 899-904

出版年月

2014年5月

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

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DOI