Thickness-dependent electrical characterization of β‐FeSi2

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thickness-dependent electrical characterization of β‐FeSi2

著者

和文:	嘉藤貴史, 稲村太一, 佐々木敦, 青木賢一, 角嶋邦之, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋.
英文:	T. Kato, T.Inamura, A.Sasaki, K.Aoki, K.Kakushima, Y.Kataoka, A. Nishiyama, N. Sugii, H.Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Natori, H. Iwai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2014年2月7日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The Workshop on Future Trend of Nanoelectronics: WIMNACT 39

開催地

和文:
英文:	Yokohama