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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Impact of Thin La2O3 Insertion for HfO2 MOSFET 
著者
和文: 角嶋 邦之, 岡本 晃一, 足立 学, 舘 喜一, S. Sato, 川那子 高暢, Jin Jisong, AHMET PARHAT, 杉井 信之, 筒井 一生, 服部 健雄, 岩井 洋.  
英文: K. Kakushima, K. Okamoto, M. Adachi, K. Tachi, S. Sato, T. Kawanago, J. Song, P. Ahmet, N. Sugii, K. Tsutsui, T. Hattori, H. Iwai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2008年5月18日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:213th ECS Meeting 
開催地
和文: 
英文:Phoenix 

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