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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Correction of height-fluctuation-induced systematic errors in polymers by AFM-based nanomechanical measurements
著者
和文:
Lu Mao,
藤波 想
, Wentao Liu,
中嶋 健
.
英文:
Lu Mao,
So Fujinami
, Wentao Liu,
Ken Nakajima
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Polym. Test.
巻, 号, ページ
Volume 93 106919
出版年月
2020年10月17日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1016/j.polymertesting.2020.106919
©2007
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