Evaluation of magnetic sensitivity of photoelectrical detection of NV centers in a lateral diamond p-i-n diode

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of magnetic sensitivity of photoelectrical detection of NV centers in a lateral diamond p-i-n diode

著者

和文:	椎貝雅文, 室岡拓也, 弘中友真, HOANG MINH TUAN, T.Makino, H.Kato, M.Ogura, S.Yamasaki, 波多野睦子, 岩崎孝之.
英文:	M.Shiigai, T.Murooka, Y.Hironaka, T.M.Hoang, T.Makino, H.Kato, M.Ogura, S.Yamasaki, M.Hatano, T.Iwasaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2020年12月17日

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:	The 3rd International Forum on Quantum Metrology and Sensing

開催地

和文:
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