A machine learning scheme to determine arbitrary EEDF in atmospheric-pressure plasma from OES measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A machine learning scheme to determine arbitrary EEDF in atmospheric-pressure plasma from OES measurement

著者

和文:	Van Der Gaag Thijs, 赤塚洋.
英文:	Thijs van der Gaag, Hiroshi Akatsuka.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Anstract Book of the 3rd International Conference on Data-Driven Plasma Science (ICDDPS-3)

巻, 号, ページ

pp. 25-26

出版年月

2021年3月29日

出版者

和文:
英文:	Executive Scientific Committee of the 3rd International Conference on Data-Driven Plasma Science (ICDDPS-3)

会議名称

和文:
英文:	The 3rd International Conference on Data-Driven Plasma Science (ICDDPS-3)

開催地

和文:
英文:

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