The effect of interface roughness on the perpendicular exchange bias of NiO/CoPt/Pt stacking structure

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	The effect of interface roughness on the perpendicular exchange bias of NiO/CoPt/Pt stacking structure

著者

和文:	Gao Ying, 春本高志, 中村吉男, 史蹟.
英文:	Ying Gao, Takashi Harumoto, Yoshio Nakamura, Ji Shi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Sci. China Technol. Sci.

巻, 号, ページ

63 1-6

出版年月

2020年11月25日

出版者

和文:
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会議名称

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英文:

開催地

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英文:

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