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論文・著書情報


タイトル
和文:共通テストのサンプル問題『情報』に関する批判的検討 
英文: 
著者
和文: 松田稔樹, 萩生田伸子.  
英文: TOSHIKI MATSUDA, Nobuko Hagiuda.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:日本情報科教育学会第14回全国大会講演論文集 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 40-41
出版年月 2021年7月3日 
出版者
和文:日本情報科教育学会 
英文: 
会議名称
和文:日本情報科教育学会第14回全国大会 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
公式リンク https://jaeis-org.sakura.ne.jp/taikai/t21/pdf/presentation/3-A-2.pdf
 

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