X線CTR散乱による√7×√3-In-rect/Si(111)√3×√3-Bの界面構造の測定 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	X線CTR散乱による√7×√3-In-rect/Si(111)√3×√3-Bの界面構造の測定
英文:

著者

和文:	荻野嵩大, 田尻寛男, 中辻寛, 平山博之.
英文:	Takahiro Ogino, 田尻寛男, Kan Nakatsuji, HIROYUKI HIRAYAMA.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年3月12日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	日本物理学会第76回年次大会
英文:

開催地

和文:
英文:

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