Unintended Carbon-Related Impurity and Negative Bias Instability in High-Mobility Oxide TFTs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Unintended Carbon-Related Impurity and Negative Bias Instability in High-Mobility Oxide TFTs

著者

和文:	Shiah Yu-Shien, 沈基亨, 上田茂典, 金正煥, 細野秀雄.
英文:	Yu-Shien Shiah, Kihyung Sim, Shigenori Ueda, Junghwan Kim, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Electron Device Letters

巻, 号, ページ

Vol. 42 pp. 1319 - 1322

出版年月

2021年7月30日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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