Software Defect Prediction via Multi-Channel Convolutional Neural Network

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Software Defect Prediction via Multi-Channel Convolutional Neural Network

著者

和文:	LANG Chen, Li Jidong, 小林隆志.
英文:	Chen Lang, Jidong Li, Takashi Kobayashi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. The 21st IEEE International Conference on Quality Software (QRS2021)

巻, 号, ページ

出版年月

2021年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 21st IEEE International Conference on Quality Software

開催地

和文:
英文: