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論文・著書情報


タイトル
和文:高分子の残留応力対策 
英文: 
著者
和文: 中嶋 健, 藤波 想.  
英文: Ken Nakajima, 藤波 想.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第3章 残留応力の測定手法の種類，特徴 第8節 AFMを用いた応力緩和測定 
英文: 
巻, 号, ページ         117-126
出版年月 2017年2月28日 
出版者
和文:技術情報協会 
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会議名称
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開催地
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