Probe Microscopy Analysis of Defect-Driven Analog Memory Functions of TaOx for Neuromorphic Computing

論文・著書情報

タイトル

和文:	Probe Microscopy Analysis of Defect-Driven Analog Memory Functions of TaOx for Neuromorphic Computing
英文:	Probe Microscopy Analysis of Defect-Driven Analog Memory Functions of TaOx for Neuromorphic Computing

著者

和文:	Atsushi Turumaki-Fukuchi, Takayoshi Katase, Hiromichi Ohta, Masashi Arita, Yasuo Takahashi.
英文:	Atsushi Turumaki-Fukuchi, Takayoshi Katase, Hiromichi Ohta, Masashi Arita, Yasuo Takahashi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年12月13日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	Materials Research Meeting 2021
英文:	Materials Research Meeting 2021

開催地

和文:
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