Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure

著者

和文:	宮田篤希, 星井拓也, 若林整, 筒井一生, 角嶋邦之.
英文:	Atsuki Miyata, Takuya Hoshii, Hitoshi Wakabayashi, KAZUO TSUTSUI, Kuniyuki KAKUSHIMA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

61 SH SH1005

出版年月

2022年4月28日

出版者

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会議名称

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開催地

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