CaF<sub>2</sub>埋め込み構造によるSi/CaF<sub>2</sub> p型共鳴トンネルダイオード のリーク電流低減

論文・著書情報

タイトル

和文:	CaF₂埋め込み構造によるSi/CaF₂ p型共鳴トンネルダイオードのリーク電流低減
英文:	Leakage current reduction of Si/CaF₂ p-type Resonant Tunneling Diode using embedded structure in CaF₂

著者

和文:	伊藤滉悟, 鈴木優輔, 星野麻衣子, 宇佐見遼也, 村上寛太, 渡辺正裕.
英文:	Akinori Ito, Yusuke Suzuki, Maiko Hoshino, Ryoya Usami, Kanta Murakami, Masahiro Watanabe.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

12-253

出版年月

2022年9月

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第83回応用物理学会学術講演会
英文:	The 83rd Autumn Meeting of The Jpn. Soc. of Appl. Phys.

開催地

和文:	宮城県仙台市
英文:	Sendai, Miyagi