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タイトル
和文:CMOS集積回路におけるリーク電流への γ線照射の影響 
英文: 
著者
和文: 黒木 海斗, 木村 有佐, 吉田 僚一郎, 平川 顕二, 岩瀬 正幸, 小笠原 宗博, 依田 孝, 石原 昇, 伊藤 浩之.  
英文: Kaito Kuroki, Arisa Kimura, Ryoichiro Yoshida, Kenji Hirakawa, Masayuki Iwase, Munehiro Ogasawara, Takashi Yoda, Noboru Ishihara, Hiroyuki Ito.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
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巻, 号, ページ        
出版年月 2022年3月15日 
出版者
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会議名称
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開催地
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