Evaluation of parasitic circuit component effects on a matching circuit for RF reflectometry of a quantum dot

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of parasitic circuit component effects on a matching circuit for RF reflectometry of a quantum dot

著者

和文:	松田凌, 神岡純, 溝口来成, 米田淳, 小寺哲夫.
英文:	R. Matsuda, J. Kamioka, R. Mizokuchi, J. Yoneda, T. Kodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2023年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2023 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD2023)

開催地

和文:
英文: