Electronic Structure Study of Heterointerface between Topological Insulator and Ferromagnet by Angle-Resolve Photoemission Spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electronic Structure Study of Heterointerface between Topological Insulator and Ferromagnet by Angle-Resolve Photoemission Spectroscopy

著者

和文:	小林正起, K. Inagaki, PHAM NAM HAI.
英文:	M. Kobayashi, K. Inagaki, P. N. Hai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2024年1月19日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	CREST領域会議「トポロジカル材料科学の構築による革新的材料・デバイスの創出」
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開催地

和文:
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