Detection of Fe-induced impurity band in Bi-doped (InFe)(SbBi) ferromagnetic semiconductor using infrared magnetic circular dichroism spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Detection of Fe-induced impurity band in Bi-doped (InFe)(SbBi) ferromagnetic semiconductor using infrared magnetic circular dichroism spectroscopy

著者

和文:	江尻航汰, 遠藤陽太, 高林健太, 田中雅明, PHAM NAM HAI.
英文:	Kota Ejiri, Yota Endo, Kenta Takabayashi, Masaaki Tanaka, Pham Nam Hai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2024年8月4日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 5th International Symposium on Advanced Magnetic Materials and Applications (ISAMMA2024)

開催地

和文:
英文:	Quang Binh