Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:集積レーザ素子のウェハレベル自動計測 
英文:Characterization of Integrated Lasers by a Wafer-level Probing System 
著者
和文: 堀川 剛, 吉田 俊, 西山 伸彦.  
英文: Tsuyoshi Horikawa, Suguru Yoshida, Nobuhiko Nishiyama.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第85回応用物理学会秋季学術講演会予稿集 
英文:The 85th JSAP Autumn Meeting 2024 Extended Abstracts 
巻, 号, ページ         16a-A25-1
出版年月 2024年9月16日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第８５回応用物理学会秋季学術講演会 
英文:The 85th JSAP Autumn Meeting 2024 
開催地
和文:新潟市 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.