Invariant Discovery of Features Across Multiple Length Scales: Applications in Microscopy and Autonomous Materials Characterization

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Invariant Discovery of Features Across Multiple Length Scales: Applications in Microscopy and Autonomous Materials Characterization

著者

和文:	Aditya Raghavan, tkarsh Pratiush, Mani Valleti, Richard(Yu) Liu, Reece Emery, 舟窪浩, Yongtao Liu, Philip Rack, Sergei Kalinin.
英文:	Aditya Raghavan, tkarsh Pratiush, Mani Valleti, Richard(Yu) Liu, Reece Emery, Hiroshi Funakubo, Yongtao Liu, Philip Rack, Sergei Kalinin.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 137 No. 034901 p. 1-13

出版年月

2025年12月24日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI