Mechanical and electrical contact testing for Pt/PEDOT/Si layered structures

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Mechanical and electrical contact testing for Pt/PEDOT/Si layered structures

著者

和文:	土屋良重, 栗岡智行, Vinaisuratern Punvinai, 樋口丈司, Chang Tso-Fu Mark, 曽根正人, Nasser Aldhahri, Liam Boodhoo, Thomas Bull, Yan Yang, John W. McBride.
英文:	Yoshishige Tsuchiya, Tomoyuki Kurioka, Punvinai Vinaisuratern, Joji Higuchi, Tso-Fu Mark Chang, Masato Sone, Nasser Aldhahri, Liam Boodhoo, Thomas Bull, Yan Yang, John W. McBride.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2025年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	51st International Conference on Micro and Nano Engineering (MNE2025)

開催地

和文:
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