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論文・著書情報


タイトル
和文:RT法によるBiSbの⾚外光学定数および吸収の評価 
英文: 
著者
和文: 西山黎, ファム ナムハイ, 雨宮 智宏, 橋⾕田 俊, 河野 ⾏雄.  
英文: Hajime Nishiyama, Pham Nam Hai, Tomohiro Amemiya, 橋⾕田 俊, Yukio Kawano.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2026年3月18日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第73回応用物理学会春季節学術講演会 
英文: 
開催地
和文: 
英文:東京 

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