"Xie Centian,Liu Yung Chi,伏信 一慶,R. Yasui,篠田 卓也","Solder Crack Detection Technique of MLCC by Means of Thermal Resistance Measurement","第60回日本伝熱シンポジウム","第60回日本伝熱シンポジウム講演論文集",,"  I123",,,2023,May
"篠田 卓也,平松 聖史,Y. Liu,安井 龍太,伏信 一慶","はんだ接続部の微細疲労き裂測定技術の開発 − 熱抵抗によるダイオードのはんだクラックの検出","第58回日本伝熱シンポジウム","第58回日本伝熱シンポジウム講演論文集",,,,,2021,May
"安井 龍太,Y. Liu,篠田 卓也,伏信 一慶","はんだ接続部の微細疲労き裂測定技術の開発 − チップコンデンサのはんだクラック非破壊検出","第58回日本伝熱シンポジウム","第58回日本伝熱シンポジウム講演論文集",,,,,2021,May
"篠田 卓也,伏信 一慶,牧 裕章,Y. Liu,安井 龍太,中溝 裕紀","過渡熱抵抗でのはんだクラック率測定","第57回日本伝熱シンポジウム","第57回日本伝熱シンポジウム講演論文集",,,,,2020,June