"東梨奈,小平行秀,松井知己,高橋篤司,児玉親亮,野嶋茂樹","0-1二次計画法によるプロセスばらつきを考慮したモデルベースマスク補正手法","VLSI設計技術研究会","電子情報通信学会技術研究報告 (VLD2018-70)",,"Vol. 118","No. 334","pp. 209-214",2018,Dec.