国内会議発表 (査読なし・不明)

• 岩田恭彰, 冨永真志, 藤田英明, 赤木泰文, 堀口剛司, 木ノ内伸一, 大井健史, 漆畑廣明. 高精度MOSFETモデルを用いた損失・ノイズ評価への基礎的検討, 産業応用部門大会, 電気学会 産業応用部門大会, 電気学会, Vol. 1, no. 1-135, pp. 615-618, Sept. 2011.
• 岩田恭彰, 冨永真志, 西村 正, 藤田英明, 赤木泰文, 堀口剛司, 木ノ内伸一, 大井健史. デバイスモデルを用いたインバータ動作時の過渡熱解析, 半導体電力変換研究会, 電気学会研究会資料, no. SPC-12-016, June 2011.

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