国際会議発表 (査読有り)

• Kazuo Tsutsui, Masamitsu Watanabe, Yasumasa Nakagawa, Kazunori Sakai, Takayuki Kai, Cheng-Guo Jin, Yuichiro Sasaki, Kuniyuki Kakushima, Parhat Ahmet, Bunji Mizuno, Takeo Hattori, Hiroshi Iwai.. Profiling of Carrier Properties for Shallow Junctions Using a New Sub-nanometer Step-by-step Etching Technique, The 8th International Workshop on Junction Technology (IWJT2008), May 2008.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 星野憲文, 中川恭成, 野平博司, 室 隆桂之, 加藤 有香子, 甲斐隆行, 金成国, パールハットアヘメト, 角嶋邦之, 水野文二, 木下 豊彦, 筒井一生, 服部健雄, 岩井洋. 光電子分光によるSi中Asの化学結合状態評価, 第56回応用物理学関係連合講演会, 第56回応用物理学関係連合講演会予稿集, 応用物理学会, No. 2, pp. 883, Mar. 2009.
• 中川恭成, 野平博司, 酒井一憲, 横田 知之, 甲斐 隆行, 金成国, パールハットアヘメト, 角嶋邦之, 水野文二, 服部健雄, 筒井一生, 岩井洋. 光電子分光によるSi中Asの活性化状態の深さ方向分布評価, 秋季第69回応用物理学会学術講演会, 応用物理学会, 応用物理学会, No. 2, pp. 738, Sept. 2008.

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