論文

• Zhengyu Xu, kouichi usami, Tomohiro Noguchi, Yukio Kawano, Teruyuki Ohashi, Takahisa Tanaka, Tsunaki Takahashi, Shunri Oda, Ken Uchida. Experimental Study on Deformation Potential (D_ac) in MOSFETs: Demonstration of Increased D_ac at MOS Interfaces and Its Impact on Electron Mobility, IEEE Journal of the Electron, Vol. PP, p. 1, June 2016.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 高橋綱己, 別府伸耕, 陳君ろ, 小田俊理, 内田建. バルク／SOI FinFET の自己加熱およびアナログ特性の最適化, 第61回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2014.
• 新留彩, 高橋綱己, 小田俊理, 内田建. グラフェン抵抗変化型メモリの3端子動作に関する研究, 第61回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2014.
• 新留彩, 高橋綱己, 小田俊理, 内田建. グラフェン抵抗変化型メモリのSET/RESET条件に関する研究, 第74回応用物理学会秋季学術講演会, Sept. 2013.
• 黒澤裕也, 角谷直哉, 高橋綱己, 大橋輝之, 小田俊理, 内田建. 不純物のイオン化エネルギー増大によるナノワイヤトランジスタの電気的特性に与える影響, 第74回応用物理学会秋季学術講演会, Sept. 2013.
• 高橋綱己, 小田俊理, 内田建. 熱特性モデル化による回路中のFinFET動作温度評価手法, 第74回応用物理学会秋季学術講演会, Sept. 2013.

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