国際会議発表 (査読なし・不明)

• Kouhei Akita, Jun Kanehara, Hiroshi Nohira, Y. Izumi, TAKAYUKI MURO, 木下豊彦, パールハットアヘメト, Kuniyuki KAKUSHIMA, KAZUO TSUTSUI, takeo hattori, HIROSHI IWAI. [517] Y. Miyata, K. Akita, J. Kanehara, H. Nohira, Y. Izumi, T. Muro, T. Kinoshita, P. Analysis of Boron Doped in Si Fin Structure by Soft X-ray Photoelectron Spectroscopy, G-COE PICE International Symposium and IEEE EDS Minicolloquium on Advanced Hybrid Nano Devices: Prospects by World’s Leading Scientists, 2013.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 金原潤, 宮田陽平, 秋田洸平, 筒井一生, 野平博司, 室隆桂之, 木下豊彦, パールハットアヘメト, 角嶋邦之, 服部健雄, 岩井洋. Si中に極浅ドープされたAsの軟X線光電子分光による化学結合状態の検出とその深さ方向分布, 第72回応用物理学会学術講演会, 2011.

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