発明者,発明の名称,種別,状態,出願人,出願日,出願番号,公開日,公開番号,登録日,登録番号
"杉山将,伊原 康行","顔印象度推定方法、装置、及びプログラム","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, NECソリューションイノベータ株式会社","2014/06/10","特願2015-527224","2017/03/02","再表2015/008567","特許第6029041号","2016/10/28"
"杉山将,木村　昭悟　,大石　康智","メディアデータ解析装置、方法、及びプログラム","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 日本電信電話株式会社","2012/07/26","特願2012-166138","2014/02/06","特開2014-026455",,
"杉山将,植木　一也,伊原　康行","属性値推定装置、属性値推定方法、プログラム及び記録媒体","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, NECソリューションイノベータ株式会社","2011/11/17","特願2012-547761","2014/05/19","特開（再表）2012-077476","特許第5633080号","2014/10/24"
"杉山将,木村　昭悟,亀岡　弘和,坂野　鋭","映像付加情報関係性学習装置、方法、及びプログラム","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 日本電信電話株式会社","2011/11/15","特願2011-249956","2013/05/30","特開2011-105393",,
"杉山将,木村　昭悟,亀岡　弘和,前田　英作,坂野　鋭,石黒　勝彦","半教師トピックモデル学習装置、半教師トピックモデル学習方法及びプログラム","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, 日本電信電話株式会社","2010/07/14","特願2010-159689","2012/02/02","特開2012-022509","特許第5499361号","2014/03/20"
"杉山将,木村　昭悟,亀岡　弘和,前田　英作,坂野　鋭,石黒　勝彦","半教師信号認識検索装置、半教師信号認識検索方法及びプログラム","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, 日本電信電話株式会社","2010/07/14","特願2010-159690","2012/02/02","特開2012-022510","特許第5499362号","2014/03/20"
"杉山将,植木　一也","目的変数算出装置、目的変数算出方法、プログラムおよび記録媒体","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, NECソリューションイノベータ株式会社","2010/01/07","特願2010-002013","2011/07/21","特開2011-141740","特許第5652694号","2014/11/28"
"杉山将,植木　一也,伊原　康行","目的変数算出装置、目的変数算出方法、プログラムおよび記録媒体","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, NECソフト株式会社","2009/09/28","特願2009-221989","2011/04/07","特開2011-070471",,
"杉山将,植木　一也,伊原　康行","年齢推定装置及び方法並びにプログラム","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, NECソフト株式会社","2009/04/28","特願2009-109613","2010/11/11","特開2010-257400","特許第4742192号","2011/05/20"
"杉山将,植木　一也,伊原　康行","年齢推定装置、年齢推定方法及びプログラム","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, NECソフト株式会社","2009/04/28","特願2009-109680","2010/11/11","特開2010-257409","特許第4742193号","2011/05/20"
"杉山将,横田　達也,小川　英光,北川　克一,鈴木　一嘉","表面形状測定方法およびこれを用いた装置","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 東レエンジニアリング株式会社","2009/02/13","特願2009-031719","2010/08/26","特開2010-185844",,
"杉山将,内藤　卓人,小川　英光,北川　克一,鈴木　一嘉","表面形状および/または膜厚測定方法およびその装置","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 東レエンジニアリング株式会社","2008/09/03","特願2008-226128","2010/03/18","特開2010-060420",,
"杉山将,中島伸一","位置検出方法、プログラム、位置検出装置及び露光装置","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 株式会社ニコン","2008/07/31","特願2008-198226","2010/02/18","特開2010-040553",,
"杉山将,北川　克一　,小川　英光,鈴木　一嘉","複数波長による表面形状の測定方法およびこれを用いた装置","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, 東レエンジニアリング株式会社","2008/01/17","特願2008-008233","2008/09/11","特開2008-209404","特許第4885154号","2011/12/16"
"杉山将,小川　英光,北川　克一,鈴木　一嘉","表面形状の測定方法およびこれを用いた装置","特許","登録","国立大学法人東京工業大学, 東レエンジニアリング株式会社","2007/01/26","特願2007-556840","2009/06/25","再表2007/088789","特許第4710078号","2011/04/01"