"堀口 剛司,杉本 貴之,冨永 真志,漆畑 廣明,藤田 英明,赤木 泰文,木ノ内 伸一,大井 健史","物理モデルに基づく並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析",,"電気学会論文誌D","電気学会","vol. 132","no. 5","pp. 566-573",2012,May
"杉本 貴之,冨永 真志,漆畑 廣明,藤田 英明,赤木 泰文,堀口 剛司,木ノ内 伸一,大井 健史","デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―","半導体電力変換研究会","電気学会研究会資料",,,"no. SPC-11-017","pp. 97-102",2011,Jan.
"杉本貴之,冨永真志,漆畑廣明,藤田英明,赤木泰文,木ノ内伸一,大井健史","デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析","産業応用部門大会","電気学会 産業応用部門大会","電気学会","Vol. 1",,"pp. 375-376",2010,Aug.