"Shinjiro Iwata,Kazumi Ohashi,Netsu Seikou,Koichi Fukuda,YASUYUKI MIYAMOTO","GaAsSb/InGaAsヘテロ接合を用いたダブルゲートトンネルFETにおける界面準位の導入による性能の劣化","第76回応用物理学会秋季学術講演会",,,,,"  16a-1C-6",2018,Sept.