@article{CTT100694991,
  author = {岡本昌二 and 堀口剛司 and 冨永真志 and 西村正 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {IGBT 物理モデルの負荷短絡保護回路への適用},
  journal = {電気学会論文誌D},
  year = 2014,
}

@article{CTT100694989,
  author = {堀口 剛司 and 塚本 剛平 and 冨永 真志 and 西村 正 and 藤田 英明 and 赤木 泰文 and 木ノ内 伸一 and 大井 健史 and 小山 正人},
  title = {物理モデルに基づく並列接続IGBT のPWM連続動作時における接合温度解},
  journal = {電気学会論文誌D},
  year = 2014,
}

@article{CTT100639334,
  author = {堀口 剛司 and 杉本 貴之 and 冨永 真志 and 漆畑 廣明 and 藤田 英明 and 赤木 泰文 and 木ノ内 伸一 and 大井 健史},
  title = {物理モデルに基づく並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析},
  journal = {電気学会論文誌D},
  year = 2012,
}

@article{CTT100639330,
  author = {遠山 喬 and 冨永 真志 and 漆畑 廣明 and 藤田 英明 and 赤木 泰文 and 木ノ内 伸一 and 大井 健史},
  title = {静特性と動特性の統合評価に基づくパラメータ抽出手法},
  journal = {電気学会論文誌D},
  year = 2011,
}

@inproceedings{CTT100722997,
  author = {岡本昌二 and 冨永真志 and 西村正 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 堀口剛司 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {IGBT物理モデルによる短絡時のスイッチング動作解析},
  booktitle = {電気学会 産業応用部門大会},
  year = 2013,
}

@inproceedings{CTT100663629,
  author = {塚本剛平 and 冨永真志 and 西村 正 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 堀口剛司 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {物理モデルを用いた並列駆動IGBT連続動作時の接合温度解析－並列素子間の配線インダクタンス差の影響－},
  booktitle = {電気学会研究会資料},
  year = 2013,
}

@inproceedings{CTT100663677,
  author = {塚本剛平 and 冨永真志 and 西村 正 and 藤田英明 and 赤木泰文},
  title = {物​理​モ​デ​ル​に​基​づ​く​I​G​B​T​並​列​駆​動​時​に​お​け​る​接​合​温​度​解​析​},
  booktitle = {電気学会 産業応用部門大会},
  year = 2012,
}

@inproceedings{CTT100639488,
  author = {岩田恭彰 and 冨永真志 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 堀口剛司 and 木ノ内伸一 and 大井健史 and 漆畑廣明},
  title = {高精度MOSFETモデルを用いた損失・ノイズ評価への基礎的検討},
  booktitle = {電気学会 産業応用部門大会},
  year = 2011,
}

@inproceedings{CTT100639327,
  author = {Shinji Tominaga and Hiroaki Urushibata and Hideaki Fujita and Hirofumi Akagi and Takeshi Horiguchi and Shin-ichi Kinouchi and Takeshi Oi},
  title = {Modeling of IGBTs with Focus on Voltage Dependency of Terminal Capacitances},
  booktitle = {Proceedings of European Conference on Power Electronics and Applications},
  year = 2011,
}

@inproceedings{CTT100639482,
  author = {岩田恭彰 and 冨永真志 and 西村 正 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 堀口剛司 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {デバイスモデルを用いたインバータ動作時の過渡熱解析},
  booktitle = {電気学会研究会資料},
  year = 2011,
}

@inproceedings{CTT100639477,
  author = {杉本 貴之 and 冨永 真志 and 漆畑 廣明 and 藤田 英明 and 赤木 泰文 and 堀口 剛司 and 木ノ内 伸一 and 大井 健史},
  title = {デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―},
  booktitle = {電気学会研究会資料},
  year = 2011,
}

@inproceedings{CTT100615558,
  author = {杉本貴之 and 冨永真志 and 漆畑廣明 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析},
  booktitle = {電気学会 産業応用部門大会},
  year = 2010,
}

@inproceedings{CTT100600911,
  author = {遠山 喬 and 冨永真志 and 漆畑廣明 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {静特性と動特性の統合評価に基づくパラメータ抽出手法 ―pinダイオードモデルへの応用―},
  booktitle = {電気学会 半導体電力変換研究会資料},
  year = 2010,
}

@inproceedings{CTT100589582,
  author = {遠山喬 and 冨永真志 and 漆畑廣明 and 藤田英明 and 赤木泰文 and 木ノ内伸一 and 大井健史},
  title = {pinダイオードモデルにおけるライフタイム分布の影響},
  booktitle = {電気学会 産業応用部門大会},
  year = 2009,
}

@misc{CTT100657659,
  author = {脇慶子(旧：温慶茹) and ハリヨ オクタビアノ and 菅野了次 and 楊　洋 and 冨永真志},
  title = {リチウムイオン電池用負極材およびそれを用いたリチウムイオン二次電池},
  howpublished = {公開特許},
  year = 2013,
  month  = {},
  note   = {特願2012-073531(2012/03/28), 特開2013-041806(2013/02/28)}
}


@misc{CTT100657667,
  author = {赤木泰文 and 藤田英明 and 岩田　恭彰 and 漆畑　廣明 and 冨永真志 and 堀口　剛司 and 中武　浩},
  title = {ゲート駆動装置},
  howpublished = {登録特許},
  year = 2015,
  month  = {},
  note   = {特願2011-170796(2011/08/04), 特開2013-038843(2013/02/21), 特許第5701176号(2015/02/27)}
}


@misc{CTT100617073,
  author = {赤木泰文 and 藤田英明 and 地道　拓志 and 漆畑　廣明 and 冨永真志 and 大井　健史 and 木ノ内　伸一},
  title = {MOSFETモデルのパラメータ抽出方法},
  howpublished = {登録特許},
  year = 2012,
  month  = {},
  note   = {特願2009-055179(2009/03/09), 特開2010-211387(2010/09/24), 特許第5069711号(2012/08/24)}
}