@book{CTT100819229,
  author = {大熊 学 and 若井 史博},
  title = {放射光マルチスケールCT技術を用いたセラミックス内部欠陥の3次元形状観察},
  publisher = {技術情報協会},
  year = 2020,
}

@article{CTT100847085,
  author = {Minjie Hou and Tao Qua and Qingkai Zhang and Yao Yaochun and Yongnian Dai and Feng Liang and Gaku Okuma and Katsuro Hayashi},
  title = {Investigation of the stability of NASICON-type solid electrolyte in neutral-alkaline aqueous solutions},
  journal = {Corrosion Science},
  year = 2020,
}

@inproceedings{CTT100854640,
  author = {大熊 学},
  title = {放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析 : MLCCの電極構造形成プロセス},
  booktitle = {},
  year = 2020,
}

@inproceedings{CTT100847080,
  author = {大熊 学 and 田中 諭 and 若井 史博},
  title = {放射光X線CTで見る粉体成形・焼結プロセスにおける欠陥形成と強度信頼性},
  booktitle = {日本機械学会第 28 回機械材料・材料加工技術講演会(M&P2020) [2020.11.18-20] CopyrightC2020 一般社団法人 日本機械学会},
  year = 2020,
}

@inproceedings{CTT100847079,
  author = {大熊 学 and 遠藤 順也 and 田中 諭 and 若井 史博},
  title = {放射光マルチスケールCTで見る粉体成形・焼結プロセスにおける欠陥形成と強度信頼性},
  booktitle = {},
  year = 2020,
}

@inproceedings{CTT100817234,
  author = {大熊学 and 斉藤直哉 and 竹内晃久 and 上杉健太朗 and 水野高太郎 and 岩崎誉志紀 and 岸弘志 and 若井史博},
  title = {放射光X線ナノCTを用いた積層セラミックスコンデンサーの焼成過程における緻密化挙動の3D解析},
  booktitle = {},
  year = 2020,
}

@inproceedings{CTT100817242,
  author = {大熊 学 and 宮木 亮 and 篠部 寛 and 若井 史博 and Anna Sciazko and 鹿園 直毅 and 志村 敬彬 and 原 祥太郎 and 小柏 俊典},
  title = {FIB-SEBトモグラフィーで見るAuサブミクロンペーストの自由焼結および拘束焼結中の異方的な微細構造進展},
  booktitle = {},
  year = 2020,
}

@misc{CTT100842349,
  author = {大熊学 and 若井史博},
  title = {放射光マルチスケールトモグラフィーで見る粉体成形・焼結プロセスにおける欠陥形成と強度信頼性},
  year = 2020,
}