論文

• "Chunmeng Dou", "Tomoya Shoji", "Kazuhiro Nakajima", "Kuniyuki Kakushima", "Parhat Ahmet", "Yoshinori Kataoka", "Akira Nishiyama", "Nobuyuki Sugii", "Hitoshi Wakabayashi", "Kazuo Tsutsui", "Kenji Natori", "Hiroshi Iwai". Characterization of interface state density of three-dimensional Si nanostructure by charge pumping measurement, Microelectronics Reliability, Vol. 54, pp. 725-729, Apr. 2014.

国際会議発表 (査読有り)

• T. Shoji, K. Kakushima, Y. Kataoka, A. Nishiyama, N. Sugii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Natori, H. Iwai. Effect of Surface Potential Control and Interface States for Silicon Nanowire Solar Cells, 29th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC 2014), Sept. 2014.
• Tomoya Shoji, Tetsuo Kodera, Tomohiro Noguchi, Kouichi Usami, Yukio Kawano, Shunri Oda. Fabrication of Ge/Si core/shell nanowires using size controlled Au nanoparticles as Vapor-Liquid-Solid growth catalysts, IEEE EDS WIMNACT-37, P-11, 2013.

国際会議発表 (査読なし・不明)

• Tomoya Shoji, Kuniyuki KAKUSHIMA, Yoshinori Kataoka, Akira Nishiyama, Nobuyuki Sugii, Hitoshi Wakabayashi, KAZUO TSUTSUI, Kenji Natori, HIROSHI IWAI. Silicon Nanowire Solar Cells: Surface Passivation and Interface Analysis, The Workshop on Future Trend of Nanoelectronics:WIMNACT 39, 2014.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 小路智也, 角嶋邦之, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋. 立体Si構造における局所的な界面準位密度の抽出, ゲートスタック研究会 ―材料・プロセス・評価の物理―（第19回研究会）, 2014.
• 小路智也, 角嶋邦之, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋. Siナノワイヤー曲面における保護膜界面準位密度の研究, 第61回応用物理学会春季学術講演会, 2014.
• 小路智也, 伊藤勇磨, 堀隼人, 宮澤遼太, 嘉藤貴史, 角嶋邦之, 若林整, 筒井一生, 片岡好則, 岩井洋. Surface States, Potential and Interface Control for Si Nanowire PV, 文部科学省「革新的エネルギー研究開発拠点形成事業」第2回国際シンポジウム ナノワイヤー太陽電池 ～最先端の太陽電池研究で福島復興へ～, 2014.
• 野口智弘, 小寺哲夫, 小路智也, Simanullang Marolop, 宇佐美浩一, 河野行雄, 小田俊理. 微細径Ge/Siコアシェルナノワイヤの作製と評価, 第74回応用物理学会秋季学術講演会, Sept. 2013.
• 小路智也, 小寺哲夫, 野口智弘, 宇佐美浩一, 河野行雄, 小田俊理. 熱電変換素子に向けたGe/Si コアシェルナノワイヤの作製, 第60回応用物理学会春季学術講演会, 2013.
• 石川昂, 小路智也, 角嶋邦之, 若林整, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋. チャージポンピング法を用いた三次元Si構造の界面準位密度測定, 第74回応用物理学会秋季学術講演会, 2013.
• 小路智也, 石川昂, 角嶋邦之, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 若林整, 筒井一生, 名取研二, 岩井洋. チャージポンピング法を用いた立体Si構造の絶縁膜界面準位の位置推定, 第74回応用物理学会秋季学術講演会, 2013.

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