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Patent Information


Title
試料の測定装置、測定方法およびプログラム 
Author
Tomohiro Amemiya, Sho Okada.  
Kind
Patent 
Status
Registered 
Applicant
国立大学法人東京工業大学, 株式会社　東京インスツルメンツ.  
Filing Date
2019/12/02
Application Number
特願2019-217786
Unexamined Application Date
2021/06/10
Publication Number
特開2021-089146
Registration Date
2023/07/24
Registration Number
特許第7318868号

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