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Patent Information


Title
円二色性計測装置、円二色性計測方法およびプログラム 
Author
Tomohiro Amemiya, Hibiki Kagami, Sho Okada.  
Kind
Patent 
Status
Published 
Applicant
国立大学法人東京工業大学, 国立研究開発法人 物質・材料研究機構, 株式会社　東京インスツルメンツ.  
Filing Date
2021/10/04
Application Number
特願2021-163323
Unexamined Application Date
2023/04/14
Publication Number
特開2023-054464

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