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特許情報


発明の名称
長尺体の試料観察に適したプローブ顕微鏡システム 
発明者
藤平正道, 安武　正敏, 安宅　龍明.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学, エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社.  
出願日
2004/09/03
出願番号
特願2004-256853
公開日
2006/03/16
公開番号
特開2006-071534
備考
権利譲渡

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