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特許情報


発明の名称
パターン認識装置、パターン認識方法、及びプログラム 
発明者
長谷川修, 岡田　将吾.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学.  
出願日
2007/05/31
出願番号
特願2007-145601
公開日
2008/12/11
公開番号
特開2008-299640

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