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特許情報


発明の名称
光学ひずみゲージ、光学的ひずみ測定装置及び光学的ひずみ測定方法 
発明者
天谷賢治, 大西有希, 八木　史昭.  
種別
特許 
状態
登録 
出願人
国立大学法人東京工業大学.  
出願日
2010/02/09
出願番号
特願2010-026405
公開日
2011/08/25
公開番号
特開2011-163896
登録日
2013/11/15
登録番号
特許第5408590号

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