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特許情報


発明の名称
反射率測定装置、反射率の測定方法、日射光強度の推定方法、飛行型測定装置 
発明者
宇都有昭, 小杉幸夫, 関晴之, 齋藤元也.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学.  
出願日
2018/03/02
出願番号
特願2018-037912
公開日
2019/09/12
公開番号
特開2019-152536

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