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特許情報


発明の名称
原子干渉計の回折像検出方法、原子干渉計、原子ジャイロスコープ 
発明者
上妻幹旺, 井上遼太郎, 細谷俊之, 田中　敦史.  
種別
特許 
状態
登録 
出願人
国立大学法人東京工業大学, 日本航空電子工業株式会社.  
出願日
2019/03/12
出願番号
特願2019-044721
公開日
2020/09/17
公開番号
特開2020-148535
登録日
2022/12/26
登録番号
特許第7201172号

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