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特許情報


発明の名称
金属酸化物薄膜還元検知センサ 
発明者
上田光敏, 林優作, 河村憲一, 山口　周　, 入澤　恵理子, 小松　篤史　, 大久保　成彰.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学, 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構.  
出願日
2020/03/31
出願番号
特願2020-062404
公開日
2021/10/11
公開番号
特開2021-162404

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