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特許情報


発明の名称
界面破壊率測定装置、及び界面破壊率測定方法 
発明者
佐藤千明, 松尾剛, 掛井　祐伸, 関口悠, 内藤　昌信.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学, 国立研究開発法人 物質・材料研究機構.  
出願日
2023/07/27
出願番号
PCT/JP2023/027482
公開日
2024/02/01
公開番号
WO 2024/024870

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