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特許情報


発明の名称
サンプル測定装置、及びサンプル測定装置用の流路デバイス 
発明者
山本貴富喜, 坂本まあみ, 堀宏輔.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京科学大学.  
出願日
2025/03/10
出願番号
特願2025-037284
公開日
2025/06/10
公開番号
特開2025-087871

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