Home >

news Help

Publication Information


Title
Japanese:MOSFETのサブスレッショルド電流ばらつき測定のための回路検討 
English: 
Author
Japanese: 藤久 雄己, 岡田 健一, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉.  
English: 藤久 雄己, Kenichi Okada, Takashi Sato, 中山 範明, Kazuya Masu.  
Language Japanese 
Journal/Book name
Japanese: 
English: 
Volume, Number, Page         pp. 259-262
Published date Nov. 2006 
Publisher
Japanese: 
English: 
Conference name
Japanese:電子情報通信学会 システムLSIワークショップ 
English: 
Conference site
Japanese:北九州国際会議場 
English: 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.