適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法

Publication Information

Title

Japanese:	適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法
English:	Critical-Path Clustering for Adaptive Test

Author

Japanese:	上薗巧, 高橋知之, 植山寛之, 新谷道広, 佐藤高史, 益一哉.
English:	Takumi Uezono Tomoyuki Takahashi Hiroyuki Ueyama Michihiro Shintani Takashi Sato Kazuya Masu, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Michihiro Shintani, Takashi Sato, Kazuya Masu.

Language

Japanese

Journal/Book name

Japanese:	2009 年電子情報通信学会総合大会
English:

Volume, Number, Page

D-10-17 p. 160

Published date

Mar. 2009

Publisher

Japanese:	電子情報通信学会
English:

Conference name

Japanese:	2009 年電子情報通信学会総合大会
English:

Conference site

Japanese:	愛媛大学
English: